Modelo óptico y térmico de acristalamientos complejos

  1. Rodríguez Maestre, Ismael
unter der Leitung von:
  1. José Luís Molina Félix Doktorvater/Doktormutter

Universität der Verteidigung: Universidad de Sevilla

Jahr der Verteidigung: 2000

Gericht:
  1. Ramón Velázquez Vila Präsident/in
  2. Juan Manuel Amaya Recio Sekretär/in
  3. Servando Alvarez Domínguez Vocal
  4. Francisco Javier Rey Martínez Vocal
  5. José Manuel Pinazo Ojer Vocal

Art: Dissertation

Teseo: 83098 DIALNET lock_openIdus editor

Zusammenfassung

En ciertos acristalamientos se depositan pequeñas capas de material conductivo (oro o plata) o dieléctrico (dióxidos o sulfuros), el orden de decenas de nanometros, para modificar sus propiedades ópticas. En este trabajos e desarrolla una metodología para la obtención de las constantes ótpicas espectrales (índice de refracción y coeficiente de extinción) de estas películas delgadas, así como de su espesor, mediante la utilización de las propeidades espectrales a incidencia normal (transmisividad y reflectividades). En este proceso de caracterización permitirá obtener éstas propiedades para diferentes ángulos de incidencia. Con este fin, se presentan los procesos de caracterización de vidrios monolíticos y de dispositivos de sombras.