Modelo óptico y térmico de acristalamientos complejos

  1. Rodríguez Maestre, Ismael
Zuzendaria:
  1. José Luís Molina Félix Zuzendaria

Defentsa unibertsitatea: Universidad de Sevilla

Defentsa urtea: 2000

Epaimahaia:
  1. Ramón Velázquez Vila Presidentea
  2. Juan Manuel Amaya Recio Idazkaria
  3. Servando Alvarez Domínguez Kidea
  4. Francisco Javier Rey Martínez Kidea
  5. José Manuel Pinazo Ojer Kidea

Mota: Tesia

Teseo: 83098 DIALNET lock_openIdus editor

Laburpena

En ciertos acristalamientos se depositan pequeñas capas de material conductivo (oro o plata) o dieléctrico (dióxidos o sulfuros), el orden de decenas de nanometros, para modificar sus propiedades ópticas. En este trabajos e desarrolla una metodología para la obtención de las constantes ótpicas espectrales (índice de refracción y coeficiente de extinción) de estas películas delgadas, así como de su espesor, mediante la utilización de las propeidades espectrales a incidencia normal (transmisividad y reflectividades). En este proceso de caracterización permitirá obtener éstas propiedades para diferentes ángulos de incidencia. Con este fin, se presentan los procesos de caracterización de vidrios monolíticos y de dispositivos de sombras.