Aplicacion de tecnicas de espectroscopia infrarroja y difracción de rayos-x al estudio estructural de aleaciones semiconductoras amorfas del sistema Ge-Sb-Se

Abstract

Se ha determinado la estructura de tres aleaciones del sistema Ge-Sb-Se utilizando técnicas de espectroscopía infrarroja y de difracción de rayos-X. De la primera se obtienen los espectros de transmisión cuyo análisis nos proporciona información de las unidades estructurales que pueden conformar el material. La medida de las intensidades de difracción de rayos-X permite generar modelos de estructura a partir de la información de la RDF utilizando el método de Montecarlo. Las unidades estructurales que aparecen en los modelos generados nos permite hacer un cálculo teórico, basado en el modelo de Campo, de Fuerza de Valencia, de las frecuencias normales de vibración de dichas estructuras y su posterior comparación con las frecuencias experimentales obtenidas por espectroscopía infrarroja.