The high sensitivity of InN under rare earth ion implantation at medium range energy

  1. Lacroix, B.
  2. Chauvat, M.P.
  3. Ruterana, P.
  4. Lorenz, K.
  5. Alves, E.
  6. Syrkin, A.
Revista:
Journal of Physics D: Applied Physics

ISSN: 0022-3727,  1361-6463

Any de publicació: 2011

Volum: 44

Número: 29

Tipus: Article

DOI: 10.1088/0022-3727/44/29/295402 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus