Instituto de investigación
Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Erratas (1) Publicaciones en las que ha participado algún/a investigador/a
1998
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Erratum: "Nonlinear self-defocusing in doped silica sono-gels" [J. Appl. Phys. 81, 7728 (1997)]
Journal of Applied Physics