Comparison between heavy ion and pulsed laser simulation to reproduce SEE tests
- Fernández-Martínez, P.
- López-Calle, I.
- Hidalgo, S.
- Franco, F.J.
- Flores, D.
- De Agapito, J.A.
Actas:
Proceedings of the 2009 Spanish Conference on Electron Devices, CDE'09
ISBN: 9781424428397
Año de publicación: 2009
Páginas: 246-249
Tipo: Aportación congreso