Detecting transient voltage stability and voltage sag

  1. Jurado, F.
  2. Saenz, J.R.
Revista:
COMPEL - The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering

ISSN: 0332-1649

Año de publicación: 2004

Volumen: 23

Número: 2

Páginas: 392-409

Tipo: Artículo

DOI: 10.1108/03321640410510569 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible