Nuevo método de caracterización geométrica y óptica de láminas delgadas dieléctricas con rugosidad superficial

1. Morant, C.
2. Gonzalez Leal, Juan Manuel
3. Stuchlik, M.
4. Sanz, J.M.
5. Márquez, E.

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DOI: 10.3989/CYV.2004.V43.I2.569 DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen access editor

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