Caracterización óptica de películas delgadas de Ge40Se60 amorfo a partir de medidas de transmisión.
- González-Leal, J.M.
- Márquez, E.
- Cartes-Vélez, C.
- López-Cartes, E.
- E. López Cartes
- Romero-Flórez, M.J.
- Jiménez-Garay, R.
ISSN: 2171-8814
Argitalpen urtea: 1996
Alea: 29
Zenbakia: 1
Orrialdeak: 41-51
Mota: Artikulua
Beste argitalpen batzuk: Óptica pura y aplicada
Laburpena
El presente trabajo recoge el estudio de las constantes ópticas de dos películas de Ge40 Se40 preparadas por evaporación térmica, en el rango espectral comprendido entre 300 y 2.000 nm, haciendo uso de las franjas del espectro de transmisión del sistema película-sustrato. La determinación del índice de refracción, del espesor de la película y del coeficiente de absorción se hace siguiendo el método de Swanepoel. La dispersión del índice de refracción se explica según el modelo del oscilador simple de Wemple-DiDomenico. El borde de absorción se estudia según el modelo propuesto por Tauc, a partir del cual se obtiene el valor del gap óptico.