Optical characterization of As2S3 and As2Se3 semiconducting glass films of non-uniform thickness from transmission measurements

  1. Ramírez-Malo, J.B.
  2. Márquez, E.
  3. Corrales, C.
  4. Villares, P.
  5. Jiménez-Garay, R.
Revista:
Materials Science and Engineering B

ISSN: 0921-5107

Año de publicación: 1994

Volumen: 25

Número: 1

Páginas: 53-59

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0921-5107(94)90201-1 GOOGLE SCHOLAR

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