CDrift: An Algorithm to Correct Linear Drift from A Single High-Resolution STEM Image

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115 1431-9276

Año de publicación: 2020

Volumen: 26

Número: 5

Páginas: 913-920

Tipo: Artículo

DOI: 10.1017/S1431927620001774 GOOGLE SCHOLAR