Analysis of electron beam damage of exfoliated MoS2 sheets and quantitative HAADF-STEM imaging

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Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723,  0304-3991

Año de publicación: 2014

Volumen: 146

Páginas: 33-38

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2014.05.004 GOOGLE SCHOLAR
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