Analysis of electron beam damage of exfoliated MoS2 sheets and quantitative HAADF-STEM imaging

  1. Garcia, A.
  2. Raya, A.M.
  3. Mariscal, M.M.
  4. Esparza, R.
  5. Herrera, M.
  6. Molina, S.I.
  7. Scavello, G.
  8. Galindo, P.L.
  9. Jose-Yacaman, M.
  10. Ponce, A.
Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723,  0304-3991

Año de publicación: 2014

Volumen: 146

Páginas: 33-38

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2014.05.004 GOOGLE SCHOLAR lock_openRODIN editor

Objetivos de desarrollo sostenible

Fuente de los datos: Scopus