Inline electron holography and VEELS for the measurement of strain in ternary and quaternary (In,Al,Ga)N alloyed thin films and its effect on bandgap energy
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ISSN: 1365-2818, 0022-2720
Año de publicación: 2016
Volumen: 261
Número: 1
Páginas: 27-35
Tipo: Artículo