Evaluation of the influence of GaN and AlN as pseudosubstrates on the crystalline quality of InN layers
- Lozano, J.G.
- Morales, F.M.
- García, R.
- Lebedev, V.
- Cimalla, V.
- Ambacher, O.
- González, D.
ISSN: 1862-6351
Datum der Publikation: 2007
Ausgabe: 4
Nummer: 4
Seiten: 1454-1457
Art: Konferenz-Beitrag