Characterization of InGaAs (N)/GaAsN multi-quantum wells using transmission electron microscopy
- Gutiérrez, M.
- Herrera, M.
- Ross, I.
- González, D.
- Hopkinson, M.
- García, R.
ISSN: 1478-0585
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 6
Seiten: 143-146
Art: Konferenz-Beitrag