Transmission electron microscopy study of InGaAs/InP superlattices grown on V-shaped surface InP substrates

  1. Molina, S.I.
  2. Araujo, D.
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  5. Morier-Genoud, F.
  6. Marti, U.
  7. Reinhart, F.K.
Zeitschrift:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Datum der Publikation: 1999

Ausgabe: 144-145

Seiten: 488-491

Art: Artikel

DOI: 10.1016/S0169-4332(98)00846-0 GOOGLE SCHOLAR