Fractal dimension and altimeter data
- Alonso, J.
- Arias, M.
- Villares, P.
- Catalan, M.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
ISSN: 0277-786X
Any de publicació: 2005
Volum: 5977
Tipus: Aportació congrés