Planar defects, voids and their relationship in 3C-SiC layers

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  6. Bustarret, E.
Collection de livres:
Materials Science Forum

ISSN: 1662-9752,  0255-5476

ISBN: 9780878499632

Année de publication: 2005

Volumen: 483-485

Pages: 189-192

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.4028/0-87849-963-6.189 GOOGLE SCHOLAR
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