Low‐Temperature EBIC Study of Zn‐Diffused GaAs p‐n Junctions
- Araújo, D.
- Pavesi, L.
- Ky, N.H.
- Ganière, J.‐D.
- Reinhart, F.K.
ISSN: 1521-396X, 0031-8965
Ano de publicación: 1992
Volume: 129
Número: 2
Páxinas: 555-567
Tipo: Artigo
ISSN: 1521-396X, 0031-8965
Ano de publicación: 1992
Volume: 129
Número: 2
Páxinas: 555-567
Tipo: Artigo