Synchrotron X-ray topography of bismuth silicon oxide crystals
- Martínez-López, J.
- González-Mañas, M.
- Caballero, M.A.
- Diéguez, E.
- Capelle, B.
ISSN: 0022-0248
Datum der Publikation: 1996
Ausgabe: 166
Nummer: 1-4
Seiten: 325-328
Art: Artikel
ISSN: 0022-0248
Datum der Publikation: 1996
Ausgabe: 166
Nummer: 1-4
Seiten: 325-328
Art: Artikel