Influence of substrate absorption on accuracy of determination of refractive index and thickness of uniform thin chalcogenide Cu 1[As2(S0.5Se0.5)3] 99 film

  1. Štrbac, D.D.
  2. Lukić, S.R.
  3. Petrović, D.M.
  4. Gonzalez-Leal, J.M.
  5. Srinivasan, A.
  6. Štrbac, G.R.
Zeitschrift:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Datum der Publikation: 2010

Ausgabe: 518

Nummer: 20

Seiten: 5679-5682

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1016/J.TSF.2009.10.025 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus