Optical characterization of thermally evaporated thin films of As40S40Se20 chalcogenide glass by reflectance measurements

  1. Márquez, E.
  2. González-Leal, J.M.
  3. Prieto-Alcón, R.
  4. Vlcek, M.
  5. Stronski, A.
  6. Wagner, T.
  7. Minkov, D.
Zeitschrift:
Applied Physics A: Materials Science and Processing

ISSN: 0947-8396

Datum der Publikation: 1998

Ausgabe: 67

Nummer: 3

Seiten: 371-378

Art: Artikel

DOI: 10.1007/S003390050787 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus