Electromagnetic compatibility test system
- Domingo-Perez, F.
- Flores-Arias, J.M.
- Moreno-Munoz, A.
- De La Rosa, J.J.G.
- Gil-De-Castro, A.
- Pallares-Lopez, V.
- Moreno-Garcia, I.
Actas:
2011 7th International Conference-Workshop Compatibility and Power Electronics, CPE 2011 - Conference Proceedings
ISBN: 9781424488070
Ano de publicación: 2011
Páxinas: 62-67
Tipo: Achega congreso