Atomic-column scanning transmission electron microscopy analysis of misfit dislocations in GaSb/GaAs quantum dots

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Zeitschrift:
Journal of Materials Science

ISSN: 1573-4803 0022-2461

Datum der Publikation: 2016

Ausgabe: 51

Nummer: 16

Seiten: 7691-7698

Art: Artikel

DOI: 10.1007/S10853-016-0051-0 GOOGLE SCHOLAR