Test Event Generation for a Fall-Detection IoT System

  1. Gutierrez-Madronal, L.
  2. La Blunda, L.
  3. Wagner, M.F.
  4. Medina-Bulo, I.
Aldizkaria:
IEEE Internet of Things Journal

ISSN: 2327-4662

Argitalpen urtea: 2019

Alea: 6

Zenbakia: 4

Orrialdeak: 6642-6651

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/JIOT.2019.2909434 GOOGLE SCHOLAR