Seeing inside materials by aberration-corrected electron microscopy

  1. Pennycook, S.J.
  2. Van Benthem, K.
  3. Marinopoulos, A.G.
  4. Oh, S.-H.
  5. Molina, S.I.
  6. Borisevich, A.Y.
  7. Luo, W.
  8. Pantelides, S.T.
Aldizkaria:
International Journal of Nanotechnology

ISSN: 1475-7435

Argitalpen urtea: 2011

Alea: 8

Zenbakia: 10-12

Orrialdeak: 935-947

Mota: Artikulua

DOI: 10.1504/IJNT.2011.044438 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus