Voltammetry of surface redox processes perturbed by a father-son reaction
- Calvente, J.J.
- Gil, M.L.
- Sánchez, M.D.
- Andreu, R.
- De Pablos, F.
ISSN: 0013-4686
Ano de publicación: 2000
Volume: 45
Número: 19
Páxinas: 3087-3097
Tipo: Artigo
Revista:
Electrochimica Acta