A study of short-range order and atomic arrangement in the glassy semiconductor As0.20Se0.40Te0.40 by X-ray diffraction

  1. Vázquez, J.
  2. Ligero, R.A.
  3. Villares, P.
  4. Jiménez-Garay, R.
Revista:
Materials Letters

ISSN: 0167-577X

Año de publicación: 1991

Volumen: 10

Número: 7-8

Páginas: 361-369

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0167-577X(91)90153-W GOOGLE SCHOLAR
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