Estudio por microscopía electrónica de transmisión de la estructura de defectos y química interfacial en sistemas semiconductores heteroepitaxiales III-V/III-V y III-V/Si crecidos mediante MBE y ALMBE
Editorial: Cádiz : Universidad de Cádiz, Servicio de Publicaciones, 1995
ISBN: 84-7786-276-1
Año de publicación: 1995
Tipo: Libro