Short-range order in some alloys of the Ge-As-Te semiconducting glassy system by X-ray diffraction

  1. Ligero, R.A.
  2. Vázquez, J.
  3. Villares, P.
  4. Jimńez-Garay, R.
Revista:
Journal of Materials Science

ISSN: 0022-2461,  1573-4803

Año de publicación: 1987

Volumen: 22

Número: 12

Páginas: 4357-4361

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/BF01132029 GOOGLE SCHOLAR
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