Strain mapping from HRTEM images

  1. Galindo, P. L.
  2. Yanez, A.
  3. Pizarro, J.
  4. Guerrero, E.
  5. Ben, T.
  6. Molina, S. I.
Colección de libros:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS
  1. Cullis, AG (coord.)
  2. Hutchison, JL (coord.)

ISSN: 0930-8989,  1867-4941

ISBN: 3-540-31914-X

Año de publicación: 2005

Volumen: 107

Páginas: 191-194

Congreso: 14th Conference on Microscopy of Semiconducting Materials

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS