Impact of Sample Preparation Approach on Transmission Electron Microscopy Investigation of Sputtered AlNi Multilayers Used for Reactive Soldering
- Jiménez, J.J.
- Jaekel, K.
- Pauly, C.
- Schäfer, C.
- Bartsch, H.
- Mücklich, F.
- Morales, F.M.
Revista:
Advanced Engineering Materials
ISSN: 1527-2648, 1438-1656
Año de publicación: 2024
Tipo: Artículo