METODO DE DETERMINACION DE PARAMETROS RETICULARES DE MATERIALES CRISTALINOS MEDIANTE DIFRACCION DE ELECTRONES DE ALTA RESOLUCION
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Inventores/as:
- CARVALHO, Daniel
- FRANCISCO MIGUEL MORALES SANCHEZ
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Universidad de Cádiz
info
Universidad de Cádiz
Cádiz, España
ES2419181A2 (19-08-2013)
ES2419181R1 (07-11-2013)
ES2419181B2 (24-04-2014)
P201101342 (16-12-2011)
Resumen
Método de determinación de parámetros reticulares de materiales cristalinos mediante difracción de electrones de alta resolución.
Permite medir parámetros reticulares de cristales de tamaños variables presentes en materiales monocristalinos y policristalinos, a partir de diagramas de difracción de electrones recopilados en microscopios electrónicos de transmisión.
Con este método se miden distancias reticulares a partir de diagramas de difracción de electrones de área seleccionada (SAED), lo que permite medir los parámetros reticulares de capas delgadas e incluso de motivos de tamaños nanométricos.
Los cálculos realizados tienen en cuenta la calibración de los valores de longitud de cámara real y la presencia de las distorsiones que puedan estar modificando los diagramas de difracción.
Se trata de una herramienta útil para el estudio y desarrollo de nuevos materiales cristalinos con aplicación en el ámbito de la tecnología de materiales avanzados.