Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Institut d'investigació
Universidade Federal de Minas Gerais
Belo Horizonte, BrasilPublicacions en col·laboració amb investigadors/es de Universidade Federal de Minas Gerais (1)
2013
-
Structural and optical characterization of Mg-doped GaAs nanowires grown on GaAs and Si substrates
Journal of Applied Physics, Vol. 114, Núm. 18