Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Institut de recherche
Real Instituto y Observatorio de la Armada
San Fernando, EspañaPublications en collaboration avec des chercheurs de Real Instituto y Observatorio de la Armada (1)
2001
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Method for determining the optical constants of thin dielectric films with variable thickness using only their shrunk reflection spectra
Journal of Physics D: Applied Physics, Vol. 34, Núm. 16, pp. 2489-2496