Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Institut d'investigació
Universidade Federal de São Carlos
São Carlos, BrasilPublicacions en col·laboració amb investigadors/es de Universidade Federal de São Carlos (1)
2009
-
Carrier localization in GaBiAs probed by photomodulated transmittance and photoluminescence
Journal of Applied Physics, Vol. 106, Núm. 2