Institut d'investigació
Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Cartes (2) Publicacions en què ha participat algun/a investigador/a
2001
-
Critical thickness of high-temperature AIN interlayers in GaN on sapphire (0001)
Journal of Electronic Materials
-
WxMoyCzS2 nanotubes [2]
Carbon