Ikerketa institutua
Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Gutunak (2) Ikertzaileren baten partaidetza izan duten argitalpenak
2001
-
Critical thickness of high-temperature AIN interlayers in GaN on sapphire (0001)
Journal of Electronic Materials
-
WxMoyCzS2 nanotubes [2]
Carbon