Instituto de investigación
Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Cartas (2) Publicacións nas que participase algún/ha investigador/a
2001
-
Critical thickness of high-temperature AIN interlayers in GaN on sapphire (0001)
Journal of Electronic Materials
-
WxMoyCzS2 nanotubes [2]
Carbon