Instituto de investigación
Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT)
Cartas (2) Publicaciones en las que ha participado algún/a investigador/a
2001
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Critical thickness of high-temperature AIN interlayers in GaN on sapphire (0001)
Journal of Electronic Materials
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WxMoyCzS2 nanotubes [2]
Carbon