Aplicacion de tecnicas de espectroscopia infrarroja y difracción de rayos-x al estudio estructural de aleaciones semiconductoras amorfas del sistema Ge-Sb-Se
- María del Pilar Villares Durán Zuzendaria
Defentsa unibertsitatea: Universidad de Cádiz
Fecha de defensa: 1998(e)ko uztaila-(a)k 29
- Rafael Márquez Delgado Presidentea
- Cristobal Corredor Cedrian Idazkaria
- Rafael Jiménez Garay Kidea
- Vicente Madurga Pérez Kidea
- Jerónimo Ballesteros Pastor Kidea
Mota: Tesia
Laburpena
Se ha determinado la estructura de tres aleaciones del sistema Ge-Sb-Se utilizando técnicas de espectroscopía infrarroja y de difracción de rayos-X. De la primera se obtienen los espectros de transmisión cuyo análisis nos proporciona información de las unidades estructurales que pueden conformar el material. La medida de las intensidades de difracción de rayos-X permite generar modelos de estructura a partir de la información de la RDF utilizando el método de Montecarlo. Las unidades estructurales que aparecen en los modelos generados nos permite hacer un cálculo teórico, basado en el modelo de Campo, de Fuerza de Valencia, de las frecuencias normales de vibración de dichas estructuras y su posterior comparación con las frecuencias experimentales obtenidas por espectroscopía infrarroja.