Caracterización óptica de películas delgadas de Ge40Se60 amorfo a partir de medidas de transmisión.

  1. González-Leal, J.M.
  2. Márquez, E.
  3. Cartes-Vélez, C.
  4. López-Cartes, E.
  5. E. López Cartes
  6. Romero-Flórez, M.J.
  7. Jiménez-Garay, R.
Revista:
Óptica pura y aplicada

ISSN: 2171-8814

Año de publicación: 1996

Volumen: 29

Número: 1

Páginas: 41-51

Tipo: Artículo

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Resumen

El presente trabajo recoge el estudio de las constantes ópticas de dos películas de Ge40 Se40 preparadas por evaporación térmica, en el rango espectral comprendido entre 300 y 2.000 nm, haciendo uso de las franjas del espectro de transmisión del sistema película-sustrato. La determinación del índice de refracción, del espesor de la película y del coeficiente de absorción se hace siguiendo el método de Swanepoel. La dispersión del índice de refracción se explica según el modelo del oscilador simple de Wemple-DiDomenico. El borde de absorción se estudia según el modelo propuesto por Tauc, a partir del cual se obtiene el valor del gap óptico.

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