An ellipsometric analysis to model the order-disorder transition in Au-SiO2 nano-granular thin films induced by thermal annealing
- Bakkali, H.
- Blanco, E.
- Amrani, M.
- Brigui, J.
- Domínguez, M.
Zeitschrift:
Thin Solid Films
ISSN: 0040-6090
Datum der Publikation: 2018
Ausgabe: 660
Seiten: 455-462
Art: Artikel