Critical strain region evaluation of self-assembled semiconductor quantum dots

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Revista:
Nanotechnology

ISSN: 0957-4484,  1361-6528

Año de publicación: 2007

Volumen: 18

Número: 47

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0957-4484/18/47/475503 GOOGLE SCHOLAR
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