Simultaneous Optical and Electrical Characterization of GaN Nanowire Arrays by Means of Vis-IR Spectroscopic Ellipsometry
- Santos, A.J.
- Lacroix, B.
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- Hurand, S.
- Gómez, V.J.
- Paumier, F.
- Girardeau, T.
- Huffaker, D.L.
- García, R.
- Morales, F.M.
ISSN: 1932-7455, 1932-7447
Año de publicación: 2020
Volumen: 124
Número: 2
Páginas: 1535-1543
Tipo: Artículo