Direct Measurement of Polarization-Induced Fields in GaN/AlN by Nano-Beam Electron Diffraction

  1. Carvalho, D.
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  12. Morales, F.M.
Revista:
Scientific Reports

ISSN: 2045-2322

Año de publicación: 2016

Volumen: 6

Tipo: Artículo

DOI: 10.1038/SREP28459 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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