Inline electron holography and VEELS for the measurement of strain in ternary and quaternary (In,Al,Ga)N alloyed thin films and its effect on bandgap energy

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Revista:
Journal of Microscopy

ISSN: 1365-2818,  0022-2720

Año de publicación: 2016

Volumen: 261

Número: 1

Páginas: 27-35

Tipo: Artículo

DOI: 10.1111/JMI.12312 GOOGLE SCHOLAR

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