Structural defects characterisation of GaInNAs MQWs by TEM and PL

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Actas:
IEE Proceedings: Optoelectronics

ISSN: 1350-2433

Año de publicación: 2004

Volumen: 151

Número: 5

Páginas: 385-388

Tipo: Artículo

DOI: 10.1049/IP-OPT:20040870 GOOGLE SCHOLAR
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