Characterisation by TEM and X-ray diffraction of linearly graded composition InGaAs buffer layers on (001) GaAs

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Revista:
Materials Science and Technology

ISSN: 0267-0836

Año de publicación: 1998

Volumen: 14

Número: 12

Páginas: 1273-1278

Tipo: Artículo

DOI: 10.1179/MST.1998.14.12.1273 GOOGLE SCHOLAR
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