Raman study of structural defects in SiO2 aerogels
- Woignier, T.
- Fernandez-Lorenzo, C.
- Sauvajol, J.L.
- Schmit, J.F.
- Phalippou, J.
- Sempere, R.
ISSN: 0928-0707, 1573-4846
Any de publicació: 1995
Volum: 5
Número: 3
Pàgines: 167-172
Tipus: Article
ISSN: 0928-0707, 1573-4846
Any de publicació: 1995
Volum: 5
Número: 3
Pàgines: 167-172
Tipus: Article